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半導体材料・デバイスの評価―パラメータ測定と解析評価の実際専用

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『半導体材料・デバイスの評価―パラメータ測定と解析評価の実際 *専用*』はヤフオクでkJ-ec7b691e3dから01月04日 09時 37分に出品され01月24日 09時 37分に終了予定です。即決価格は14,946円に設定されています。現在956件の入札があります。決済方法はYahoo!かんたん決済に対応。東京都からの発送料は落札者が負担します。ＰＲオプションはYahoo!かんたん決済、取りナビ(ベータ版)を利用したオークション、即買でした。

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商品情報

著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より) シュロゥダーディーター・K. アリゾナ州立大学工学部電気工学科教授。博士はアリゾナ州立大学工学部の優秀教育賞の受賞者であり、その他数々の教育賞を受賞している。マクギル大学とイリノイ大学に学ぶ。1968年にウェスティングハウス研究所に入所。MOSデバイス、撮像素子、パワーデバイス、静磁波など半導体デバイスを多様な側面から研究。1978年ドイツの応用固体物理学研究所に滞在。1981年にアリゾナ州立大学固体電子工学センターへ移籍。最近のテーマは、半導体材料およびデバイス、評価技術、低消費電力電子工学、および半導体中の欠陥嶋田/恭博 1982年、電気通信大学物理工学科卒業。同年松下電器産業(株)入社。リソグラフィ用エキシマレーザーの開発、強誘電体メモリ、機能薄膜材料、イメージセンサの開発に従事。工学博士(2003年、京都大学)。応用物理学会会員。現在パナソニック(株)エコソリューションズ社勤務(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)